OI-IC08set近场探头套件
产品简介：OI-IC08系列探头套件专为电磁兼容（EMC）整改设计，可精准定位干扰源，频率覆盖30MHz～7.5GHz，包含2个磁场（H）探头和2个电场（E）探头。...
订货信息：
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OI-IC08set 近场探头套件，频率30MHz～7.5GHz，SMA型输出接口
标准配置：
OI-ICH08-1无源磁场探头1支
OI-ICH08-2无源磁场探头1支
OI-ICE08-1无源电场探头1支
OI-ICE08-2无源电场探头
OI-SMA(M-M)射频连接线一根
OI-Case01便携箱1个
OI-IC40set是一款频率高达40GHz，用于测量磁场和电场强度的无源近场探头组。测量头通过特殊的阻尼系统与电缆屏蔽层分离。此外，探头还包含一个电流衰减器；探头具有50Ω的内部匹配网络。...
本文是OI-IC08set近场探头套件使用手册，详细描述了OI-IC08set近场探头套件的使用注意事项和使用方法。...
本文是OI-IC40set系列无源近场探头组使用手册，详细描述了OI-IC40set系列无源近场探头组的使用注意事项和使用方法。...
近场电磁干扰(EMI)测试是电磁兼容性 (EMC) 辐射发射预兼容测试中的一个重要组成。EMI机构使用EMI接收机和经过准确校准的天线来测试3或10米距离上的被测设备(DUT)，这称为远场测量。电磁场的特性主要由被测设备(DUT)以及它与接收机和天线的距离决定。远场辐射发射测量可以准确地告诉我们被测器件是否符合相应的EMC/EMI标准。...
近场测量特别适合进行组件和设备开发的工程师使用，他们使用近场测量来获得干扰发射原因的重要数据。近场测量方法得到的信息和这些数据，能定位干扰源，从而采取相应措施以减少电磁干扰。...
近场测试是一种相对量测试，这意味着它需要把被测器件的测试结果与基准器件的测试结果进行比较，以预测被测器件通过一致性测试的可能性。...
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